產(chǎn)品[
ZH3142顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó)
]資料
產(chǎn)品名稱:
ZH3142顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó)
產(chǎn)品型號(hào):
ZH3142
產(chǎn)品展商:
美國(guó)
產(chǎn)品文檔:
*相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀**應(yīng)用于**電子和機(jī)械類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開發(fā)、測(cè)試和程序改進(jìn)。
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀（SD PIND）用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)，目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的多余粒子，是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。
ZH3142顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó)
的詳細(xì)介紹
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 美國(guó)
型號(hào)：ZH-4511L-R
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貨號(hào)：ZH3142
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀**應(yīng)用于**電子和機(jī)械類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開發(fā)、測(cè)試和程序改進(jìn)。
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀（SD PIND）用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)，目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的多余粒子，是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。
顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀適用范圍：用于檢測(cè)集成電路、繼電器、半導(dǎo)體分立器件、光電器件等電子
元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒，即PIND試驗(yàn)。
雙面聲藕合膠片和聲藕合膠水是用于顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀實(shí)驗(yàn)時(shí)使用的。
標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和國(guó)軍標(biāo)。
指標(biāo)：
型 號(hào)：ZH-4511L、ZH-4511L-R
組 成：控制儀、振動(dòng)臺(tái)、示波器、傳感器等
載荷：400g（25Hz~250Hz）、500g（60Hz時(shí)）
沖擊加速度：100g~3000g、100g~800g
振動(dòng)頻率：25Hz~250Hz
振動(dòng)加速度：0.1g~25.5g
噪聲傳感器靈敏度：-77.5±3（DBD）relv（1bar,155kHz）
外形尺寸（高×寬×深）：主機(jī)250mm×650mm×450mm
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